測(cè)厚儀THK-01產(chǎn)品介紹

測(cè)厚儀THK-01采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度準(zhǔn)確測(cè)量。

測(cè)厚儀

測(cè)試原理：

測(cè)厚儀采用接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。

測(cè)厚儀THK-01主要參數(shù)：

測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）；0～6mm、0～12mm（選配） 

分辨率：0.1μm

測(cè)試速度：1～25次/min

測(cè)量頭平行度：±2μm（機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn)）

重復(fù)性：0.3μm

測(cè)量壓力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(紙張)；

接觸面積：50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)；

                薄膜、紙張任選一種，非標(biāo)可定制

電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

約凈重：30Kg

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

·嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制

·高精度測(cè)厚傳感器，精度高、重現(xiàn)性好

·多種測(cè)試量程可選，支持非標(biāo)定制

·測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

·嵌入式高速微電腦控制，簡(jiǎn)潔高效的人機(jī)交互界面，為用戶提供舒適流暢的操作體驗(yàn)

·支持手動(dòng)和自動(dòng)兩種模式，供用戶自由選擇

·標(biāo)準(zhǔn)化，模塊化，系列化的設(shè)計(jì)理念，可最大限度的滿足用戶的個(gè)性化需求

·7寸高清彩色液晶觸控屏，實(shí)時(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)

·內(nèi)置微型打印機(jī)，可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)歷史數(shù)據(jù)打印功能

·標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

·可采用標(biāo)準(zhǔn)厚度計(jì)量工具標(biāo)定、檢驗(yàn)

·實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷

·Pubtester提供客戶專業(yè)定制服務(wù)，可滿足不同用的多種不同測(cè)試需求

匠心設(shè)計(jì)

·測(cè)頭采用標(biāo)準(zhǔn)M2.5螺紋連接方式，可連接各種形式百分表，千分表表頭進(jìn)行測(cè)量

·可拆卸螺紋連接配重塊，可滿足各種標(biāo)準(zhǔn)要求及非標(biāo)壓力定制

·測(cè)量支架采用具有高吸振特性、受溫度變化極小的球墨鑄鐵一體成形，有效減輕了外界震動(dòng)、溫度變化對(duì)測(cè)試產(chǎn)生的影響

·進(jìn)口高速高精度采樣芯片，有效保證測(cè)試準(zhǔn)確性與實(shí)時(shí)性

符合標(biāo)準(zhǔn)：

該儀器符合多項(xiàng)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等

檢測(cè)范圍：

A.基礎(chǔ)應(yīng)用

1.適用于薄膜、薄片、隔膜的厚度測(cè)試

2.適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試

3.適用于箔片、硅片的厚度測(cè)量

4.適用于金屬片的厚度測(cè)試

5.適用于紡織材料的厚度測(cè)試

6.適用于固體電絕緣體的厚度測(cè)試

7.適用于無(wú)紡布材料的厚度測(cè)試，如尿不濕、衛(wèi)生巾片材的厚度測(cè)量

B.擴(kuò)展應(yīng)用

1.量程擴(kuò)展至5mm，10mm:適用于片材、板材的厚度測(cè)試

2.曲面測(cè)量頭:適用于特殊要求的厚度測(cè)試